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當(dāng)前位置:首頁   >  產(chǎn)品中心  >  探針臺  >  四點探針系統(tǒng)  >  T2001A4ossila四點探針臺

ossila四點探針臺

簡要描述:ossila四點探針臺是一款易于使用的工具,用于快速測量材料的薄層電阻,電阻率和電導(dǎo)率。 通過使用我們自己的源測量單元,我們能夠創(chuàng)建一個低成本的系統(tǒng),使測量范圍更廣泛。 探頭采用彈簧加載接觸,而不是尖銳的針頭,防止損壞精密樣品,如厚度在納米左右的聚合物薄膜。

  • 產(chǎn)品型號:T2001A4
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2025-02-12
  • 訪  問  量:2350

詳細介紹

ossila四點探針臺

特點:

• 廣泛的測量范圍 - ossila四點探針臺能夠提供10 nA-100 mA的電流,并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍,從10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多種材料。

• 非破壞性測試 - 設(shè)計時考慮到了精密樣品的測量,四點探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭, 60克的恒定接觸力,防止探針刺破脆弱的薄膜,同時仍能提供良好的電接觸。

• 節(jié)省空間的設(shè)計 - 通過垂直堆疊組件,我們能夠?qū)⑺狞c探頭的占地面積降至zui低(總臺面面積12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏貨架空間的實驗室中使用。

• 易于使用 - 只需插入系統(tǒng),安裝軟件,即可開始使用! 直觀的界面和清潔的設(shè)計,簡化了薄膜電阻的測量。

• 快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻,電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測量和計算,從而使材料表征變得毫不費力。

• 要忘記保存您的實驗數(shù)據(jù) - 用于測量的設(shè)置會與數(shù)據(jù)一起保存,從而輕松查看實驗的詳細信息。 此外,這些設(shè)置文件可以通過相同的軟件加載,加快重復(fù)測量和材料表征。 用更少的時間重復(fù)測量,您的研究成果可以顯著增加。


 

技術(shù)參數(shù):

電壓范圍

100μV至10 V

當(dāng)前范圍

10 nA到100 mA

薄層電阻范圍

10mΩ/至10MΩ/

測量精度

< ±4%

測量精度

±0.5%

探針間距

1.27毫

矩形樣本大小范圍

長邊zui小值:4毫米

短邊zui大值:60毫

圓形樣品尺寸范圍(直徑)

4毫米到76.2毫

zui大樣品厚度

5毫米

總體尺寸

寬度:120

高度:100

深度:300

支持的操作系統(tǒng)

Windows Vista,7,8和10(64位

zui小顯示器分辨率

1440 x 900

建議的監(jiān)視器分辨

1920 x 1080

所需的硬盤空間

400 MB

 

 

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